膜厚儀利用紅外線發射及接收系統測量透明膜層的厚度，為一種非破壞性，高自動化且快速的量測方式，可在同一樣品上進行多點量測并同時量測多層膜的個別厚度，測試樣品無需任何前處理，但需輸入膜層的準確折射率。
膜厚儀的性能特點：
滿足各種不同厚度樣品以及不規則表面樣品的測試需求。
小孔準直器可以滿足微小測試點的需求。
高精度移動平臺可定位測試點，重復定位精度小于0.005mm。
采用高度定位激光，可自動定位測試高度。
定位激光確定定位光斑，確保測試點與光斑對齊。
鼠標可控制移動平臺，鼠標點擊的位置就是被測點。
高分辨率探頭使分析結果更加準確。
良好的射線屏蔽作用。
測試口高度敏感性傳感器保護。
膜厚儀的使用注意事項：
1、放置產品和聚焦時勿觸碰到鏡頭，且在移動測量臺面當儀器報警時，說明所移動方向的位移已到極限，此時應立即朝反方向移動。
2、發現有問題及需建測量程序時，應立即通知道廠家過來解決。
3、工作室應該保持室內溫度在18～30度為宜，相對濕度在70%以下為佳，保持儀器及工作臺面的清潔。
4、勿頻繁開頭儀器，否則電流容易沖擊硬件設施，另雷電天氣就關閉膜厚測試儀。
